工厂校准和测试

为提供优质传感器，FDISYSTEMS 开发了独特的校准与测试流程。这些流程高度自动化、可扩展，可避免常见人为错误，并确保交付的每台传感器均符合规格。

设施

我们的设施配备多轴转台与温箱，能够模拟传感器在运行中可能遇到的各类环境。上述设备由先进的校准软件驱动，可自动完成全部流程，包括环境与运动模拟、校准参数计算、传感器验证以及报告生成。

传感器校准

在处理传感器误差参数时，我们认为良好的工厂校准通常比在线传感器估计更可靠。我们对每款产品均进行工厂校准与测试，以交付高效、无缺陷的设备。

校准流程可提供：

• 在全温度范围内对所有传感器及子系统进行功能与精度测试；
• 加速度计与陀螺仪在全温度范围内的增益与偏置补偿；
• 加速度计与陀螺仪在全量程范围内的非线性补偿；
• 加速度计与陀螺仪的交叉轴与安装不准效应补偿；
• 陀螺仪的 Gyro-G 敏感性补偿。

是否对所有传感器都执行最全面的校准？

FDISYSTEMS 自主设计开发了批量校准设备及配套软件；但各项校准仍对时间与成本有较高要求，且并非所有应用场景都需要全面校准。具体产品执行了何种级别的校准，可联系我们确认。

校准（及后续测试）序列通常需要 1～3 天才能完成全部必要步骤。此时可实现传感器的最佳性能。

传感器验证

校准完成后，所有传感器进入验证环节：将实际校准参数写入传感器的非易失性存储器；对传感器施加实际运动，并将测量值与参考值比较，以确保传感器行为完全符合规格。

自动生成的校准报告可确保仅交付合格产品。

以下摘录展示了所执行测试的典型示例，以及验证报告中结果的呈现方式。

您可通过 pid.fdisystems.cn (opens new window) 查询飞迪惯导产品的真伪与校准报告。

校准有效性

验证报告保证：自 IMU 校准日起三年内，产品规格完整有效。若您有其他质量政策要求，FDISYSTEMS 可提供终身传感器检查与校准服务。

此外，FDISYSTEMS 已仔细评估 IMU 与 INS 随时间的漂移特性，并仅选用稳定性出色的传感器。在正常工作条件下使用时，产品应在其使用寿命内符合规格，通常无需定期校准。

传感器校准可能失效的情况

超出正常范围的冲击，以及在过高或过低温度下存储与使用设备，都可能导致传感器校准失效甚至损坏。因此使用中应尽量避免传感器高空跌落与热应力。

FDISYSTEMS DETA30 低温盐雾测试